2：各种GSM卡，G网卡，CDMA卡，C网卡，UIM卡，1X卡，RUIM卡等。
3：各种USIM卡，WCDMA卡，TD-SCDMA卡、EVDO卡，CDMA 2000卡，LTE卡，TDD卡，FDD卡，LTE+CDMA卡等。
4：各种测试卡，测试白卡，安捷伦8960卡，CMU200测试卡，CMU55测试卡，CMW500测试卡等。
5：各种试机卡，移动试机卡，联通试机卡，电信试机卡，10086卡，10010卡，10000卡等。
6：各种注册业务的卡，接收短信的卡，开钻的卡，开业务的卡，短信卡等。
7：各种锁网卡、单模卡、双模卡、激活卡、SWP卡，NFC卡，T=0的卡，T=1的卡。
LTE测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、测试卡(又称白卡），使用于通讯工业生产的信号测试Eng Term Evolution，长期演进)是由3GPP组织制定的UMTS技术标准的长期演进，于2004年12月3GPP多伦多TSG RAN#26会议上正式立项并启动。LTE系统引入了OFDM和多天线MIMO等关键传输技术，显著增加了频谱效率和数据传输速率（峰值速率能够达到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s），并支持多种带宽分配：
1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，频谱分配更加灵活，系统容量和覆盖显著提升。LTE无线网络架构更加扁平化，减小了系统时延，降低了建网成本和维护成本。LTE系统支持与其他3GPP系统互操作。FDD-LTE已成为当前世界上采用的及地区广泛的，终端种类丰富的一种4G标准。）
我们公司的LTE测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、测试卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、测试卡采用国际著名半导体厂商生产的专用芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切.、配以专用COS系统，全面遵从4G、3G对、2G等，我司的测试卡的各项规范特殊的半导体硅衬，保证卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（GSM标准为4牛顿／每平方米Ｊ合工业化生产线使用，采用超长寿命EEPROM，保证读写次数在10万次以上。（3G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部的读写次数为10次，可测一万部。），专利芯片保护层，保证卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），防水（48斜浸泡试验Ｘ殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4斜以上。75度温度冲击试验.
NFC测试白卡 GSM测试白卡 CDMA测试白卡 EVDO测试白卡 CDMA2000测试白卡 TD-SCDMA测试白卡 WCDMA测试白卡 4G测试白卡 3G测试白卡 2G测试白卡 LTE测试白卡 LTE-FDD测试白卡 LTE-TDD测试白卡 FDD测试白卡 TDD测试白卡 藕合测试白卡 藕合白卡 电信NFC测试白卡 联通NFC测试白卡 移动NFC测试白卡 全网通测试白卡
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